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Un grupo de la UVA aplica técnicas para mejorar sensores

Un grupo de investigación de Modelado Multiescala de Materiales de la Universidad de Valladolid (UVa), adscrito al Departamento de Electricidad y Electrónica de la Escuela de Ingenieros de Telecomunicación, aplica técnicas de simulación a nivel atómico al estudio de propiedades de materiales, fundamentalmente semiconductores, que tienen que ver con la tecnología de dispositivos como sensores o electores.

De este modo, el grupo realiza estudios teóricos y computacionales para ahondar en la comprensión fundamental de las propiedades de estos materiales y para proporcionar pistas que ayuden a la optimización de procesos y el desarrollo de nuevas estructuras con propiedades mejoradas para aplicaciones tecnológicas en campos como los sensores, los detectores de radiación o las células fotovoltaicas.

"Estamos inmersos en la nanoelectrónica y esto obliga a utilizar técnicas mucho más fundamentales. Al reducir el tamaño, los aspectos electrónicos más básicos empiezan a ser importantes. Ahora los tamaños característicos del transistor son de unos pocos nanómetros y es necesario el nivel de descripción que ofrecen técnicas atomísticas como las que manejamos, aunque aún sigan siendo necesarias otras que describan el sistema a mayor escala. Es lo que denominamos modelado multiescala, que es una de nuestras mayores fortalezas", apunta la coordinadora del Grupo, la catedrática de la UVa Lourdes Pelaz.

Así, los investigadores de la UVa utilizan diferentes técnicas a distinta escala que permiten realizar simulaciones a escala atómica muy detallada –como Ab Initio, o la Dinámica Molecular-, capaces incluso de describir el papel de los electrones, y otras, como Monte Carlo cinético, permiten acercarse a la escala macroscópica y por tanto conectar con dispositivos y experimentos reales.

"Somos capaces de entender lo que sucede a escala macroscópica a la vez comprender lo que está pasando desde un punto de vista físico, de modo que podemos abordar una misma problemática con diferente nivel de detalle", añade.

16-12-2016

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